SM EN IEC 60749-30:2021
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30: Предварительная обработка негерметичных устройств c поверхностным монтажом перед испытанием на надежность
- Статус : Взамен
- Дата вступления в силу : 03.03.2021
- Действующий : Да
- Доступно в : Английский
- Страниц : 22
Заметки
Постановлениe Института Стандартизации Молдовы № 10 от 03.03.2021Классификация стандарта
- Код ICS
- Название
- 31.080.01
- Полупроводниковые приборы в целом
Связь между документами
- Тип ссылки
- Индикатив
- Замещает
- SM EN 60749-30:2014
- Замещает
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014
- IDT-идентичен международным
- IEC 60749-30:2020
- IDT-идентичен европейским
- EN IEC 60749-30:2020