IEC 60749-26:2013
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
- Statut : Inlocuit
- Valabil : Nu
- Disponibil în : Engleza
- Nr. pagini :
Clasificarea standardului
- Cod ICS
- Denumirea
- 31.080.01
- Dispozitive cu semiconductoare în general
Legatura între documente
- Tip legatura
- Indicativ
- Înlocuit prin
- IEC 60749-26:2018
- Înlocuit prin
- IEC 60749-26:2018
- Înlocuieşte
- IEC 60749-26:2006