SM EN 60749-30:2014
Dispozitive cu semiconductoare. Metode de încercare mecanice şi climatice. Partea 30: Precondiţionarea dispozitivelor cu montare pe suprafaţă, neermetice, înainte de încercările de fiabilitate
- Statut : Anulat
- Data intrării în vigoare : 13.08.2014
- Valabil : Nu
- Termen de valabilitate : 21.09.2023
- Disponibil în : Franceza
- Nr. pagini : 37
Note
Hotărârea Institutului Naţional de Standardizare nr. 328 din 13.08.2014 / Anulat prin Hotărîrea Institutului de Standardizare din Moldova nr. 10 din 03.03.2021Clasificarea standardului
- Cod ICS
- Denumirea
- 31.080.01
- Dispozitive cu semiconductoare în general
Legatura între documente
- Tip legatura
- Indicativ
- Înlocuit prin
- SM EN IEC 60749-30:2021
- Înlocuit prin
- SM EN IEC 60749-30:2021
- Înlocuit prin
- SM EN IEC 60749-30:2021
- IDT-Corespondent Internaţional
- IEC 60749-30:2005
- IDT-Corespondent Internaţional
- IEC 60749-30:2005
- IDT-Corespondent Internaţional
- IEC 60749-30:2005
- IDT-Corespondent European
- EN 60749-30:2005
- IDT-Corespondent European
- EN 60749-30:2005
- IDT-Corespondent European
- EN 60749-30:2005
- Modificat prin
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014
- Modificat prin
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014
- Modificat prin
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014