Войти
SM EN 60749-30:2014
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных приборов для поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
- Статус : Отменён
- Дата вступления в силу : 13.08.2014
- Действующий : Нет
- Срок действия : 21.09.2023
- Доступно в : Французский
- Страниц : 37
Заметки
Постановление Института Стандартизации № 328 от 13.08.2014Классификация стандарта
- Код ICS
- Название
- 31.080.01
- Полупроводниковые приборы в целом
Связь между документами
- Тип ссылки
- Индикатив
- Заменяющие
- SM EN IEC 60749-30:2021
- Заменяющие
- SM EN IEC 60749-30:2021
- Заменяющие
- SM EN IEC 60749-30:2021
- IDT-идентичен международным
- IEC 60749-30:2005
- IDT-идентичен международным
- IEC 60749-30:2005
- IDT-идентичен международным
- IEC 60749-30:2005
- IDT-идентичен европейским
- EN 60749-30:2005
- IDT-идентичен европейским
- EN 60749-30:2005
- IDT-идентичен европейским
- EN 60749-30:2005
- Изменён
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014
- Изменён
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014
- Изменён
- SM EN 60749-30:2014/A1:2014